镀层厚度分析仪

设备配置

  X射线光管：50KV，1mA 钼钯            测量原理：能量色散Ｘ射线分析    

  检测系统：SDD探测器                       能量分辨率：125±5eV

  检测元素范围：Al (13) ~ U(92)           焦斑直径：15μm

  应用程序语言：韩／英／中                 分析方法：FP/校准曲线，吸收，荧光

  平台尺寸：600*600mm(长*宽）         样品移动距离：前后左右各300mm

主要优点及应用

可支持特殊镀层厚度检测：化学镀镍钯浸金、钯、 镍、 铑等；

汽车零部件、 线路板（PCB）镀层厚度检测，如：电容；

单层、 多层、合金镀层检测；

可同时检测合金镀层的厚度与成份比例；

可选用Capillary微焦点（35μm）检测样品；

可检测多层薄膜的膜厚（多达5层）；

便捷的样品台操控；